龍氏逹綜合現(xiàn)代半導(dǎo)體技術(shù)，開(kāi)創(chuàng)了第五代非接觸式測(cè)量技術(shù)，研發(fā)出各系列靜電測(cè)試儀，連接使用不同量程的探測(cè)頭，可測(cè)量小至1毫米大小的絕緣體半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料上的靜電，是專(zhuān)業(yè)用于電子行業(yè)日常靜電測(cè)量的精密儀表。
　　龍氏逹靜電測(cè)試儀在電子行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
　　*±15V測(cè)試量程，高精度測(cè)量。
　　*任何檢測(cè)距離，超高精度0.1%）。
　　*配合低分辨率探測(cè)頭，感應(yīng)孔徑3.3mm，能在遠(yuǎn)達(dá)6mm有測(cè)量距離內(nèi)進(jìn)行低雜訊測(cè)量。
　　測(cè)量距離：
　　正常使用測(cè)量距離不應(yīng)超過(guò)2.54mm，最佳距離0.125-0.381mm之間。測(cè)量距離增大會(huì)影響儀表“雜訊”，飄移及響應(yīng)速度變大。但測(cè)量距離不影響儀表精度。
　　在電子行業(yè)對(duì)靜電非常敏感，靜電會(huì)引起電子生產(chǎn)線元件損壞，增加廢品率，所以及時(shí)使用靜電測(cè)試儀監(jiān)測(cè)靜電，方便工程師下一步靜電防護(hù)工作的實(shí)施。